Rentgenska difrakcijska analiza (XRD) nam omogoča preiskovanje strukture različnih materialov:
- njihovo atomsko ureditev,
- merjenje povprečnih razmikov med atomskimi plastmi,
- določanje velikost in orientacijo posameznih kristalov,
- določanje kristalne strukture neznanega materiala,
- merjenje velikosti, oblik in notranjih napetosti posameznih kristalnih regij,
- določanje morebitnih nepravilnosti.
Rentgenski difraktometer se bo uporabljal za pridobivanje kvalitativnih difrakcijskih podatkov, kot na primer merjenje razlike napetosti na kovinskem vzorcu, z uporabo posebnega modula PAN Analitical Stress Software.