NAZIV:

Rentgenski difraktometer

OPIS:

Rentgenska difrakcijska analiza (XRD) nam omogoča preiskovanje strukture različnih materialov: njihovo atomsko ureditev, merjenje povprečnih razmikov med atomskimi plastmi, določanje velikost in orientacijo posameznih kristalov, določanje kristalne strukture neznanega materiala, merjenje velikosti, oblik in notranjih napetosti posameznih kristalnih regij, določanje morebitnih nepravilnosti. Rentgenski difraktometer se uporablja za pridobivanje kvalitativnih difrakcijskih podatkov, kot na primer merjenje razlike napetosti na kovinskem vzorcu, z uporabo posebnega modula PAN Analitical Stress Software.

Kontakt: dr. Maruša Mrak (marusa.mrak@zag.si)

DATUM NABAVE:

01.10.2015

SLIKE: