NAZIV:

XRD oprema

OPIS:

Rentgenska difrakcijska analiza (XRD) nam omogoča preiskovanje strukture različnih materialov:

• njihovo atomsko ureditev,
• merjenje povprečnih razmikov med atomskimi plastmi,
• določanje velikost in orientacijo posameznih kristalov,
• določanje kristalne strukture neznanega materiala,
• merjenje velikosti, oblik in notranjih napetosti posameznih kristalnih regij,
• določanje morebitnih nepravilnosti.

Rentgenski difraktometer se bo uporabljal za pridobivanje kvalitativnih difrakcijskih podatkov, kot na primer merjenje razlike napetosti na kovinskem vzorcu, z uporabo posebnega modula PAN Analitical Stress Software.
 

DATUM NABAVE:

01.10.2015

SLIKE: