NAZIV:
Vrstični elektronski mikroskop JEOL JSM-IT500 z energijsko disperzijskim spekrometrom EDS Oxford Instruments
OPIS:
JEOL JSM-IT500 SEM z EDS analizatorjem ima:
• Grobovakuumski (10 – 650 Pa) in visokovakuumski način
• Ločljivost: 3.0 nm (30 kV), 15.0 nm (1.0 kV) v visokovakuumskem, 4.0 nm (30 kV, BED) v grobovakuumskem načinu
• Povečava: 5x do 300.000x
• Sekundarni elektronski in trije načini odbitih elektronov
• Izvor: W filament
• Pospeševalna napetost: 0.3 do 30 kV
• Tok elektronskega curka: 1 pA do 1 µA
• Zajem slike: 640 x 480 do 5120 x 3840 pikslov
• Max vzorec: 200 mm premer x 75 mm višina
EDS: kvalitativna in kvantitativna analiza, linijska in točkovna analiza, elementno mapiranje.
Kontakt: mikroskop@zag.si, Mirjam Bajt Leban (mirjam.leban@zag.si
• Grobovakuumski (10 – 650 Pa) in visokovakuumski način
• Ločljivost: 3.0 nm (30 kV), 15.0 nm (1.0 kV) v visokovakuumskem, 4.0 nm (30 kV, BED) v grobovakuumskem načinu
• Povečava: 5x do 300.000x
• Sekundarni elektronski in trije načini odbitih elektronov
• Izvor: W filament
• Pospeševalna napetost: 0.3 do 30 kV
• Tok elektronskega curka: 1 pA do 1 µA
• Zajem slike: 640 x 480 do 5120 x 3840 pikslov
• Max vzorec: 200 mm premer x 75 mm višina
EDS: kvalitativna in kvantitativna analiza, linijska in točkovna analiza, elementno mapiranje.
Kontakt: mikroskop@zag.si, Mirjam Bajt Leban (mirjam.leban@zag.si
DATUM NABAVE:
21.12.2018
SLIKE:
