NAZIV:

Vrstični elektronski mikroskop JEOL JSM-IT500 z energijsko disperzijskim spekrometrom EDS Oxford Instruments

OPIS:

Vrstični elektronski mikroskop JEOL JSM-IT500 z EDS analizatorjem ima naslednje tehnične specifikacije:

• Grobovakuumski (10 – 650 Pa) in visokovakuumski način mikroskopiranja
• Ločljivost  3,0 nm (30 kV); 15,0 nm (1,0 kV) v visokovakuumskem načinu
• Ločljivost 4,0 nm (30 kV, BED) v grobovakuumskem načinu
• Povečava od 5x do 300.000x
• Slika sekundarnih elektronov (SEI) ter trije načini slike odbitih elektornov (BED-T – topografska slika; BED-S – stereo-mikroskopska slika in BED-C – kompozicijska slika)
• Izvor: W filament
• Pospeševalna napetost od 0,3 do 30 kV
• Tok elektronskega curka od 1 pA do 1 µA
• Zajem slike (v pikslih oz. slikovnih točkah): 640 x 480; 1280 x 960; 2560 x 1920 ter 5120 x 3840
• Maksimalna velikost vzorca 200 mm (premer) x 75 mm (višina)

EDS funkcije: kvalitativna in kvantitativna analiza, linijska analiza, točkovna analiza, elementno mapiranje
Kontakt: mikroskop@zag.si

DATUM NABAVE:

21.12.2018

SLIKE: