NAZIV:
vrstični elektronski mikroskop JEOL 5500 LV z EDS analizatorjem OXFORD
OPIS:
grobovakuumski vrstični elektronski mikroskop z EDS analizatorjem, ki ima naslednje tehnične specifikacije: • visokovakuumski in grobovakuumski način mikroskopiranja (1 Pa do 130 Pa), • pospeševalna napetost od 0,5 do 30 kV, • povečava od 18 do 300.000 x, • ločljivost 3,5 nm v visokovakuumskem načinu in 5 nm v grobovakuumskem načinu, • SEI slika sekundarnih elektronov in BEI slika odbitih elektronov , • kvalitativna in kvantitativna elementna analiza od B (bora) do U (urana), • možnost točkovne, linijske in površinske analize.
DATUM NABAVE:
01.01.2001
SLIKE:
